แท็ก: SiC Defect Density

แผ่นเวเฟอร์ซิลิคอนคาร์ไบด์ (SiC) ได้กลายเป็นวัสดุพื้นฐานในอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์กำลังและอุปกรณ์ความถี่สูงสมัยใหม่ โดยมีปัจจัยขับเคลื่อนจากคุณสมบัติทางกายภาพและไฟฟ้าที่เหนือกว่า เมื่อเปรียบเทียบกับแบบดั้งเดิม