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碳化矽 (SiC) 作為一種用於功率元件的寬帶隙半導體材料,在過去二十年來受到越來越多的關注。相較於矽 (Si),SiC 裝置具有顯著的優勢,例如更高的击穿電場、更快的開關速度、更好的熱傳導性以及更高的工作溫度。然而,要實現這些優勢需要先進的封裝技術,以解決各種挑戰,例如降低寄生電感、增強熱性能以及確保在高溫下的可靠性。本文概述了 SiC 功率元件封裝技術的最新發展,重點介紹了低寄生電感、高溫封裝和多功能整合封裝。此外,還討論了這些領域的挑戰和機遇。.

簡介:
碳化矽 (SiC) 功率元件與傳統的矽元件相比,具有更優異的材料特性,將為功率電子帶來革命性的變化。以 SiC 為基礎的功率元件可以在更高的頻率、電壓和溫度下工作,從而提高了各種應用的效率和功率密度,包括電動汽車、可再生能源系統和工業功率電子。然而,這些優勢只有透過開發能滿足 SiC 裝置獨特要求的先進封裝技術才能完全實現。.

1.低寄生電感封裝技術:
降低 SiC 功率元件封裝中的寄生電感對於實現高速切換、減少電壓過衝和電磁干擾 (EMI) 至關重要。矽元件常用的傳統封裝結構,由於開關迴路較大和使用金屬鍵合線,因此寄生電感較高。為了解決這個問題,已開發出數種創新的封裝技術。.

1.1 倒裝晶片封裝:
倒轉式晶片封裝技術,例如阿肯色大學團隊所提出的技術,是利用金屬互連來翻轉晶片,並將背面電極連接至與正面電極相同的平面。這樣就不需要接合線,並大幅降低寄生電感。與傳統的 TO-247 封裝相比,這種封裝方式可將元件尺寸縮小 14 倍,導通電阻降低 24%。.

1.2 DBC+PCB 混合封裝:
另一種降低寄生電感的解決方案是在混合封裝結構中結合直接銅焊 (DBC) 和印刷電路板 (PCB)。透過將晶片表面與 PCB 連接,可將電流迴路面積減至最小,從而大幅降低寄生電感。這種混合封裝可達到低於 5nH 的電感值,並將整體體積減少 40%。.

1.3 晶片導線互連:
使用直接引線鍵合 (DLB) 進行晶片到引線的連接,可進一步將電流迴路面積最小化,從而降低寄生電感,改善溫度循環性能和可靠性。這種封裝技術不需要鍵合線,使其成為 SiC 功率元件的理想解決方案。.

1.4 雙面冷卻包裝:
雙面散熱技術常用於電動汽車的電力電子產品,已應用於 SiC 裝置以改善散熱效果。透過在晶片兩側使用 DBC 基板,封裝實現了上下表面同時散熱。與傳統封裝相比,熱阻降低了 38%。.

1.5 3D 封裝技術:
3D 封裝技術利用 SiC 的垂直結構降低寄生電感。透過將開關臂直接堆疊在彼此之上,3D 封裝消除了不必要的佈線,並將迴路電感大幅降低至 1nH 以下。這種方法已證明可以同時提高裝置的效率和功率密度。.

2.高溫封裝技術:
SiC 功率元件的設計工作溫度超過 300°C,遠高於傳統的矽元件。然而,矽元件所使用的封裝材料和結構並不適合高溫應用,因為它們的可靠性在超過 150°C 時會大幅降低。因此,開發可承受高溫的封裝材料對 SiC 功率元件的成功至關重要。.

2.1 高溫互連材料:
在高溫應用中取代鋁線的銅接合線可大幅改善 SiC 功率元件的可靠性。此外,銅帶和銅帶因其優異的載流能力和散熱能力,使其成為高溫 SiC 應用的理想選擇,目前也正在進行開發。.

2.2 燒結銀技術:
燒結銀接合正在成為高溫應用中傳統焊接技術的替代方案。燒結銀的熱傳導率高達 200W/(m-K),提供優異的熱能管理和高熔點,使其成為 SiC 功率元件的理想材料。然而,優化燒結銀接合的製程,尤其是壓力、溫度和時間方面,仍是一個積極研究的領域。.

2.3 陶瓷基板和金屬底板:
為了確保 SiC 功率元件在高溫環境中的長期可靠性,基板和底板必須展現高導熱性,並符合 SiC 的熱膨脹係數 (CTE)。氮化鋁 (AlN) 和氧化鈹 (BeO) 等材料因其優異的熱傳導特性而受到考慮。然而,BeO 的毒性限制了它的廣泛使用,而 AlN 的高成本仍然是採用它的障礙。.

3.多功能整合包裝技術:
隨著 SiC 裝置被推向微型化和更高的功率密度,多功能整合變得越來越重要。將電容器、驅動器、感測器和散熱器整合到封裝中,對於改善裝置的整體效能至關重要。.

3.1 整合式電容器與驅動器:
陶瓷電容直接整合在功率模組內,可降低寄生電感,並改善整體系統效能。然而,這些電容的高溫可靠性仍是一項挑戰。同樣地,在模組內整合閘極驅動器,如三菱和英飛凌等公司的 SiC 智慧型功率模組 (IPM),可縮小模組尺寸並改善開關性能。.

3.2 感測器整合與 EMI 減緩:
溫度、電流和電壓感測器被整合到 SiC 功率元件中,以提供即時監測和控制,從而提高系統的整體性能和可靠性。此外,還整合了 EMI 濾波器和遮罩,以減緩電磁干擾,確保符合業界標準。.

3.3 微通道散熱器整合:
微通道散熱器被直接整合到功率模組中以改善散熱。此技術可降低熱阻,並改善 SiC 功率元件的整體散熱效能。在模組的基板內整合微通道散熱可使熱阻降低 34%。.

4.挑戰與未來展望:
儘管碳化矽封裝技術取得了進展,但仍存在一些挑戰,特別是在材料開發、降低成本和高溫可靠性方面。需要進一步的研究來:

  1. 驗證低寄生電感封裝結構的性能,特別是在功率循環、熱循環和整體可靠性方面。.
  2. 開發具有最佳熱傳導與熱膨脹特性的高溫封裝材料。.
  3. 克服陶瓷電容器、感測器和其他整合元件在高溫下的限制。.
  4. 探索新的冷卻技術,例如微通道冷卻和相變材料,以進一步增強 SiC 功率元件的散熱性能。.

總而言之,先進封裝技術的發展是發揮 SiC 功率元件全部潛力的關鍵。隨著產業的不斷創新,SiC 將在功率電子的演進中扮演越來越重要的角色,為更高效率、更高功率密度和更可靠的系統鋪路。.

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